Equipamentos
Microscópio Eletrônico de Transmissão JEOL JEM 1200EX-II – Inoperante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de transmissão (campo claro e campo escuro)
- Difração de elétrons em área selecionada (SAED)
- Análises em baixa temperatura (Cryo-TEM)
🔧 Características Técnicas do JEOL JEM-1200EX II:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET)
- Fabricante: JEOL Ltd. (Japão)
- Modelo: JEM-1200EXII
- Tensão de aceleração: 80 ou 120kV
- Resolução máxima: Aproximadamente 0,5 nm
- Magnificação: até 600.000x
- Fonte de elétrons: Filamento de Tungstênio
- Preparação de amostras: Amostras ultrafinas (< 100 nm de espessura)
- Sistema de detecção: Câmera de alta resolução CCD Gatan (Orius SC1000B)
✅ Destaques do JEM-1200EXII:
- Porta amostras para temperatura controlada (de -180°C a +110°C)
Microscópio Eletrônico de Transmissão JEOL JEM F200 – Inoperante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de transmissão (campo claro e campo escuro) – TEM
- Imagens de microscopia eletrônica de transmissão por varredura (campo claro e campo escuro) – STEM
- Imagem de campo escuro anular (ADF)
- Imagem de campo escuro anular em alto ângulo (HAADF)
- Imagem com contraste magnético (Lorentz Microscopy – LM)
- Difração de elétrons em área selecionada (SAED)
- Análise de Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Energia – EDS
🔧 Características Técnicas do JEOL JEM F200:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET ou TEM/STEM)
- Fabricante: JEOL Ltd. (Japão)
- Modelo: JEM-F200
- Modo de operação: TEM e STEM
- Tensão de aceleração: 80 ou 120kV
- Resolução máxima TEM: aproximadamente 0,16 nm
- Resolução máxima STEM: aproximadamente 0,08 nm
- Magnificação: até 2.000.000x
- Fonte de elétrons: FEG (Field emission gun)
- Preparação de amostras: Amostras ultrafinas (< 100 nm de espessura) exceto magnéticas.
- Sistema de detecção: Câmeras digitais de alta resolução (CMOS ou híbridas), detectores HAADF, BF, DF
- Sistema de detecção EDS: Detector SDD com área de 100mm²
Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL JSM 6360-LV – Operante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura (SE e BSE)
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura em baixo vácuo
- Análise de emissão luminescente por Catodo Luminescência (CL) – Indisponível
- Análise com temperatura controlada – Indisponível
🔧 Características Técnicas do JEOL JSM-6360LV:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV/SEM)
- Fabricante: JEOL Ltd. (Japão)
- Modelo: JSM-6360LV
- Modo de operação: Alto vácuo e baixo vácuo (Low Vacuum)
- Tensão de aceleração: De 0,5kV a 30kV
- Resolução máxima: Aproximadamente 3,0 nm (em alto vácuo a 30 kV com detector secundário SEI)
- Magnificação: até 300.000x
- Fonte de elétrons: Filamento de Tungstênio
- Preparação de amostras: Aceita diversos tipos de amostras (exceto amostras úmidas ou com solventes voláteis, amostras magnéticas fortes e amostras grandes demais)
- Sistema de detecção: Detetor de elétrons secundários (SEI) e retroespalhados (BSE)
✅ Destaques do JSM-6360LV
- Porta amostras para temperatura controlada (de -180°C a +110°C)
Microscópio Eletrônico de Varredura TESCAN VEGA3 LMU – Operante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura (SE e BSE)
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura em baixo vácuo
- Análise de Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Energia – EDS
- Imagens 3D para Metrologia em MEV – Indisponível
🔧 Características Técnicas do TESCAN VEGA3 LMU:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV/SEM)
- Fabricante: TESCAN ORSAY HOLDING (República Tcheca)
- Modelo: VEGA3 LMU
- Modo de operação: Alto vácuo e baixo vácuo (Low Vacuum)
- Tensão de aceleração: De 0,2kV a 30kV
- Resolução máxima: Aproximadamente 3,0 nm (em alto vácuo a 30 kV com detector secundário SE)
- Magnificação: até 300.000x
- Fonte de elétrons: Filamento de Tungstênio
- Preparação de amostras: Aceita diversos tipos de amostras (exceto amostras úmidas ou com solventes voláteis, amostras magnéticas fortes e amostras grandes demais)
- Sistema de detecção: Detetor de elétrons secundários (SE) e retroespalhados (BSE)
Microscópio Eletrônico de Varredura TESCAN MIRA3 – Operante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura (SE e BSE)
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura (In-Beam SE e BSE)
- Análise de Difração de Elétrons Retroespalhados – EBSD
🔧 Características Técnicas do TESCAN VEGA3 LMU:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV/SEM)
- Fabricante: TESCAN ORSAY HOLDING (República Tcheca)
- Modelo: MIRA3
- Modo de operação: Alto vácuo
- Tensão de aceleração: De 0,2kV a 30kV
- Resolução máxima: Aproximadamente 1,2 nm (em alto vácuo a 30 kV com detector secundário SE)
- Magnificação: até 1.000.000x
- Fonte de elétrons: FEG (Field emission gun)
- Preparação de amostras: Aceita diversos tipos de amostras (exceto amostras úmidas ou com solventes voláteis, amostras magnéticas fortes e amostras grandes demais)
- Sistema de detecção: Detetor de elétrons secundários (SE), retroespalhados (BSE) e In-Beam SE e BSE
✅ Destaques do MIRA3
- Alta resolução em baixa tensão: 2,5 nm a 3 kV
Microscópio Eletrônico de Varredura FEI QUANTA 450 FEG – Operante
Técnicas:
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura (SE e BSE)
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura em baixo vácuo
- Imagens de microscopia eletrônica de varredura em modo ambiental (ESEM) – Indisponível
- Imagems de microscopia eletrônica de transmissão (STEM) – Indisponível
- Análise de Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Energia – EDS
- Análise de Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Comprimentos de Onda – WDS – Indisponível
- Análise de Difração de Elétrons Retroespalhados – EBSD
- Microtomografia de raios-X – Indisponível
- Análise com temperatura controlada – Indisponível
🔧 Características Técnicas do FEI QUANTA 450 FEG:
- Tipo: Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV/SEM)
- Fabricante: FEI Company (EUA)
- Modelo: QUANTA 450 FEG
- Modo de operação: Alto vácuo, baixo vácuo e modo ambiental
- Tensão de aceleração: De 0,2kV a 30kV
- Resolução máxima: Aproximadamente 1,2 nm (em alto vácuo a 30 kV com detector secundário SE)
- Magnificação: até 1.000.000x
- Fonte de elétrons: FEG (Field emission gun)
- Preparação de amostras: Aceita diversos tipos de amostras (exceto amostras úmidas ou com solventes voláteis, amostras magnéticas fortes e amostras grandes demais)
- Sistema de detecção: Detetor de elétrons secundários (SE) e retroespalhados (BSE)
✅ Destaques do MIRA3
- Alta resolução em baixa tensão: 3,0 nm a 1 kV
Microscópio Raman Confocal Witec alpha 300R – Operante
Técnicas:
- Análise de Espectroscopia Raman
- Análise de topografia com TrueSurface® – Indisponível
🔧 Características Técnicas do TESCAN VEGA3 LMU:
- Tipo: Microscópio Raman Confocal
- Fabricante: WITEC (Alemanha)
- Modelo: alpha300 R
- Resolução lateral: Aproximadamente 200 nm
- Resolução axial: Aproximadamente 500 nm
- Fonte de excitação: laser verde (532 nm), laser vermelho (633 nm) e laser infravermelho (785 nm)
- Preparação de amostras: Aceita diversos tipos de amostras
- Sistema de detecção: Detector CCD resfriado termoeletricamente
- Faixa espectral: ~100 cm⁻¹ até 4000 cm⁻¹ (dependendo do laser e da grade)
- Resolução do espectrômetro: 0,02 cm⁻¹
